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- 1、圖像粒度儀價格
圖像粒度儀價格
1、缺點：結果受分布模型影響較大，儀器造價較高。電鏡： 優(yōu)點：適合測試超細顆粒甚至納米顆粒、分辨率高。缺點：樣品少、代表性差、儀器價格昂貴。超聲波法： 優(yōu)點：可對高濃度漿料直接測量。缺點：分辨率較低。透氣法： 優(yōu)點：儀器價格低，不用對樣品進行分散，可測磁性材料粉體。
2、用于測定小于0.074mm物料的粒度；③顯微鏡法，能逐個測定顆粒的投影面積，以確定顆粒的粒度，光學顯微鏡的測定范圍為150～0.4μm，電子顯微鏡的測定下限粒度可達0.001μm或更小。常用的粒度分析儀有激光粒度分析儀、顆粒圖像分析儀、超聲粒度分析儀、消光法光學沉積儀及X射線沉積儀等。
3、粒度數(shù)據的圖示法通常是以橫坐標(x軸)列出顆粒粒度，以縱坐標(y軸)列出測得的基準量。表示數(shù)量有兩種方法：一種是列出每一粒級中的量(絕對量，分數(shù)，或百分數(shù))，另一種方法是列出高于或低于某一粒度的累計量(分數(shù)或百分數(shù))。
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